《科技》2024日本半導體展 愛德萬秀最新測試科技

愛德萬測試2024年喜迎70週年，此次以「攜手迎向未來」（Facing the Future Together）爲題，與客戶和業界夥伴於今年日本國際半導體展慶祝此重要里程碑。此外，身爲SEMI全球半導體氣候聯盟（SCC） 創始成員，也在展會中推廣ESG倡議。

愛德萬測試聚焦推動創新和日常生活不可或缺的先進技術研發關鍵解決方案，包括最新晶粒針測機、寬頻及高頻寬射頻（RF）晶片測試卡、先進功率多工器、軟體開發平臺、T2000 SoC測試系統配備快速開發套件（RDK）、系統單晶片（SoC）測試系統、系統級測試平臺等。

此外，愛德萬測試SVC行銷暨業務開發資深總監兼測試策略師藤田真二（Shinji Fujita），亦於11日下午舉行的STS測試主題場次中，以「HPC/AI應用創新小晶片測試策略的最佳化」爲題發表演說。