《科技》愛德萬測試獲中芯長電設備大單

中國最大IC封測廠中芯長電因應記憶體測試需求，與半導體測試設備商愛德萬測試（Advantest）簽訂大量採購合約，將向愛德萬測試購入大量的記憶體測試系統T5830，用於測試串列周邊介面（SPI）NOR Flash裝置。

中芯長電是由中芯國際、長電科技於2014年8月合資成立，後獲中國集成電路產業投資基金與高通（Qualcomm）旗下子公司Qualcomm Global Trading投資，以先進12吋凸塊與晶圓測試起家，進一步提供全球頂尖的中段矽片製造與測試服務並拓展先進3D IC業務。

中芯長電過去已曾安裝愛德萬測試測試系統V9300，用以測試高速數位與精度類比IC，此次則爲購買記憶體測試系統。在有機發光二極體（OLED）與觸控面板感應晶片（TDDI）迅速成長帶動下，SPI NOR Flash裝置需求持續走強。

中芯長電半導體執行長崔東表示，公司非常高興能與愛德萬測試簽訂策略性合約，並期許在業務範圍拓展持續成長的記憶體市場、以及研發更復雜的3D IC之際，持續維持雙方合作關係。

愛德萬測試總裁兼執行長吉田芳明（Yoshiaki Yoshida）則表示，中國人口與人均收入不斷增加，帶動NOR Flash產業成長。在企業基礎建設發展日趨成熟，以及包括中芯長電在內的產業主要參與者規模不斷擴大，成爲帶動市場成長的助力。

愛德萬測試表示，去年推出的T5830能執行晶圓測試，併爲低腳位到高腳位IC提供最終測試，測試機功能一應俱全，能爲廣泛用於行動電子裝置的各式快閃記憶體，提供最佳化的低成本大量測試能力，爲客戶創造可觀的投資回報（ROI）、降低財務風險。

T5830系統適用生產及工程開發，可用於認證測試或大量生產，且可完全相容於T5800系列產品，強化其可靠性以及模組可升級性。愛德萬測試在13～15日於東京舉辦的SEMICON Japan 2017國際半導體展，也展示T5830記憶體測試機在內的領先測試解決方案。