《科技》愛德萬測試推AI應用解決方案 助升IC生產良率

元件良率爲半導體生產過程的關鍵效能指標，需要工程人員持續除錯和微調。ACS EASY解決方案運用AI技術，自動監測測試環境並進行AI推論（inference），攔檢並分析良率下降原因，能即時解決生產問題、縮短偵錯時間，並大大減少分析測試資料工作量。

ACS EASY善於處理大量資料，藉由比較最新與先前批次測試結果，快速辨別不正常類別原因。而圖形化的使用者介面（GUI）除便於線上傳輸測試結果，省去製作個別報的麻煩，且操作直覺簡便，不需要熟悉AI、機器學習、資料分析或統計學也能輕鬆上手。

愛德萬測試表示，一家採用此解決方案的業界大廠指出，原先每天需耗費100個工程小時分析釐清生產良率下降原因，自採用ACS EASY新系統後一舉省下約8成時間，併成功偵測出先前遭忽略的多個良率問題和背後原因。

愛德萬測試客戶服務本部執行副總張建華表示，業界向來期待在引進AI和先進資料分析後，能幫助IC測試向前躍進一大步。ACS EASY爲低成本、安裝容易又操作簡便的系統，測試工程師不用成爲數據科學家，也能快速掌握有用資訊。

愛德萬測試表示，ACS EASY運用自我學習技術分類所有良率相關問題，以便未來監測和分析，能進一步擴大系統儲存知識庫，有利後續推論應用創造更大價值。此解決方案將會在愛德萬測試線上入口網Advantest Cloud Solutions上線。