中科曙光申請彈片鍍層檢測方法與裝置專利，能夠降低檢測彈片上鍍層厚度時的探頭聚焦難度

金融界2024年6月25日消息，天眼查知識產權信息顯示，曙光信息產業股份有限公司申請一項名爲“彈片鍍層檢測方法與裝置“，公開號CN202410289292.9，申請日期爲2024年3月。

專利摘要顯示，本申請涉及彈片鍍層檢測方法與裝置，一種彈片鍍層檢測方法，所述彈片鍍層檢測方法包括：將彈片插接於治具；使所述治具帶動所述彈片運動，直至所述彈片上的鍍層正對膜厚測試儀的探頭；通過所述膜厚測試儀檢測所述彈片上的鍍層厚度。一種彈片鍍層檢測裝置，所述彈片鍍層檢測裝置用於實現上述的彈片鍍層檢測方法，所述彈片鍍層檢測裝置包括所述膜厚測試儀、所述治具和驅動機構，所述治具具有用於供所述彈片插接的固定槽，所述驅動機構用於驅動所述治具相對所述探頭運動。上述彈片鍍層檢測方法與裝置，能夠降低檢測彈片上鍍層厚度時的探頭聚焦難度，使測試結果不易出現較大偏差。

本文源自：金融界

作者：情報員