成大教授李昆忠 獲選IEEE會士

成功大學6日表示，致力於積體電路測試技術研究的成大電機工程學系教授李昆忠，已獲選爲電機電子工程師學會會士（IEEE Fellow）。（成功大學提供）中央社記者張榮祥臺南傳真 105年12月6日

成功大學今天表示，致力於積體電路測試技術研究的成大電機工程學系教授李昆忠，已獲選爲電機電子工程師學會會士（IEEE Fellow）。

成大指出，李昆忠發明的廣播式掃描測試技術，已成爲高複雜度積體電路最常採用的測試資料壓縮方法，使用此方法測試或衍生技術的積體電路晶片超過數十億顆。

李昆忠已發表210餘篇期刊及會議論文，這在積體電路測試領域非常不容易。他的論文多在高品質的IEEE期刊及國際頂尖會議發表，在今年全球最高水準的國際測試會議，他就發表3篇論文。

目前，李昆忠是IEEE亞洲測試會議指導委員會主席、IEEE測試技術理事會亞洲及太平洋區主席、IEEE國際設計、自動化及測試會議執行委員會委員及IEEE高階測試研討會指導委員會委員。

電機電子工程師學會（Institute of Electrical and Electronics Engineers，簡稱IEEE）創立於1963年，是世界最大的專業技術組織之一，擁有170多個國家42萬名會員，總部設於美國紐約市，在全球150多個國家也有分會。1051206